計(jì)量方法：

　　1）計(jì)量在空載條件下進(jìn)行。若帶有負(fù)載，應(yīng)在證書中說明負(fù)載情況。

　　2）計(jì)量濁濕度點(diǎn)一般應(yīng)選擇設(shè)備使用范圍的上限、下限及中心點(diǎn)，也可根據(jù)用戶需要選擇實(shí)際常用的溫濕度點(diǎn)

計(jì)量點(diǎn)的位置：

　　● 設(shè)備容積小于2m3時(shí)，溫度點(diǎn)9個(gè)，濕度點(diǎn)3個(gè)

　　● 設(shè)備容積大于2 m3，溫度點(diǎn)15個(gè)，溫度點(diǎn)4個(gè)

　　　計(jì)算（以溫度為例）

　　　波動度：△tf=±（tomax-tomin）/2

　　　均勻度：△tu=Σ（ttmax-ttmin）/n

　　　偏差：△Tmax=Tmax-T標(biāo)

　　　　　　△Tmin=Tmin-T標(biāo)

注：1）波動度：溫濕度試驗(yàn)箱在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間中心點(diǎn)參數(shù)隨時(shí)間的變化量。

　　2）均勻度：溫濕度試驗(yàn)箱在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間某一時(shí)刻各測試點(diǎn)（溫濕度）之間  

現(xiàn)在實(shí)行的檢測模擬標(biāo)準(zhǔn)

●美*標(biāo)MIL-STO-810

●GJB150~20-86*用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法

●GB/T5170-96電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法

●GB2423電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)

●GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

●GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

●GB10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件